Evolution of the diffusion field during crystal growth in gel studied by speckle interferometry

Coautori: Mariusz J. Krasiński, Emanuele Piano, Gian A. Dall’Aglio
Rivista:  Materials Chemistry and Physics
Editore:  Elsevier
DataVolume 80, Issue 1, 29 April 2003
Pagine376-382

 

Leggimi

Electronic speckle pattern interferometry has been applied for studies of diffusion fields near a single crystal of potassium dihydrogen phosphate (KDP), growing in tetramethoxysilane (TMS) gel. The experimental procedure together with the advantages of speckle interferometry allowed us to study the development of diffusion field after a sudden switch of supersaturation. Comparing experimental data with the results of numerical simulation we have evaluated the linear kinetics coefficient B during gel growth. The obtained value was about three times smaller than that in gel free solution what suggests interaction of crystal surface with the gel net.

error: Il contenuto è protetto!

Utilizzando il sito, accetti l'utilizzo dei cookie da parte nostra. maggiori informazioni

Questo sito utilizza i cookie per fornire la migliore esperienza di navigazione possibile. Continuando a utilizzare questo sito senza modificare le impostazioni dei cookie o cliccando su "Accetta" permetti il loro utilizzo.

Chiudi